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CAE Service
CAE サービス
弊社では、マイクロレンズに特化した高度なCAE(Computer-Aided Engineering)解析手法を保有し、これらサービスも提供しています。CAEを用いることで、試作を削減したり、経験のない領域の技術開発を行うことが可能です。既存の解析手法はもちろん、お客様のニーズに合わせてあらたな解析手法をカスタマイズすることも可能です。未知の領域への対応も、過去の経験知見を応用しお客様の要望を詳しくお聞きしながら対応していきます。
構造解析、迷光解析、樹脂流動解析、電磁場解析など、多岐にわたる分野での専門知識を駆使し、お客様の製品の性能向上と革新的な設計に貢献いたします。
構造解析
マイクロレンズに負荷が作用した場合の応力・ひずみや変形を解析します。レンズが変形した状態における光学性能を確認することも可能です。
解析対象事例
落下衝撃、組立工程、環境変動、圧入嵌合、構造変化によるMTF性能
など
樹脂流動解析
レンズ成形にあたって、ゲート位置や材料、射出条件を設定し、充填時間の確認やウェルドライン・ヒケなどの潜在的不良を確認できます。
解析対象事例
レンズ成形、複屈折、金型冷却 など
迷光解析
設計したレンズのゴーストフレアの発生状態を確認できます。光線ルートを特定し、ゴーストフレアに対し設計段階で対策を行います。
解析対象事例
レンズ内面反射、コバ反射、鏡筒反射 など
構造-電磁場解析
VCMの設計にあたって、構造-磁場の連成解析により精度の高い変位特性やTilt特性を算出します。また共振モードをフィードバックし安定した制御を実現できます。
解析対象事例
VCM磁場-構造、磁場ー周波数応答 など
