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CAE
磁場-構造解析 事例
アクチュエーター駆動変位特性解析
磁場解析と構造非線形静解析により、駆動力発生による変位特性を把握
当社では、スマートフォンカメラに不可欠なAF(Auto Focus）やOIS（Optical Image Stabilization）などの磁気駆動ACT（Actuator）システムに関する解析サービスを提供しています。電磁場解析と構造非線形静解析を連携させて、正確なACTのAFやOISの姿勢差による変位特性を算出することができます。算出したチャートを活用し、既存デバイスの評価から新しいACTデバイスの設計開発まで包括的なサポートを提供しています。
解析事例
※AF OIS Actuatorの例：磁力により発生する駆動力の値を構造非線形解析に渡して精度の高い姿勢差による変位特性を算出します。
東京晨美光学電子を選ぶメリット
マイクロレンズの専門家集団
私たちのエキスパートチームは、マイクロレンズの設計と解析において卓越した経験を積んでいます。微細な構造や光学的特性に関する深い知識を活かし、最適な解決策を提供します。
最新テクノロジーの活用
我々は最新のCAEツールとテクノロジーを駆使しており、高度なシミュレーションと解析を行います。これにより、製品の設計段階から問題を解決し市場投入までの時間を短縮します。
包括的な解析サービス
構造解析、迷光解析、樹脂流動解析、電磁場解析など、マイクロレンズに関連するあらゆる側面にわたる包括的なCAEサービスを提供しています。これにより、製品の総合的な性能を最大限に引き出します。
お客様中心のアプローチ
お客様のニーズに合わせて柔軟に対応し、プロジェクトに特有の課題に焦点を当てたアプローチを提供します。お客様との密な連携を通じて、最適な結果を実現します。
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