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CAE
構造解析 事例
落下解析１
落下衝撃時の落下治具及びレンズの挙動を把握
当社では、マイクロレンズの信頼性評価の一環として、実際の信頼性試験条件を再現した落下衝撃シミュレーションを実施しています。所定の高さからマイクロレンズを搭載した落下治具を落下させ、加速度と応力を評価。シミュレーション結果は製品の物理的な影響を詳細に定量化し、落下時の損傷や変形の可能性を予測。この事例は、製品信頼性向上において落下衝撃シミュレーションが不可欠であることを示しています。
解析事例
シミュレーションモデル
Design A 材質a
Design B 材質b
落下治具の構造及び材質の違いにより、落下治具とカメラモジュールに発生する応力、加速度が異なることが確認できます。
東京晨美光学電子を選ぶメリット
マイクロレンズの専門家集団
私たちのエキスパートチームは、マイクロレンズの設計と解析において卓越した経験を積んでいます。微細な構造や光学的特性に関する深い知識を活かし、最適な解決策を提供します。
最新テクノロジーの活用
我々は最新のCAEツールとテクノロジーを駆使しており、高度なシミュレーションと解析を行います。これにより、製品の設計段階から問題を解決し市場投入までの時間を短縮します。
包括的な解析サービス
構造解析、迷光解析、樹脂流動解析、電磁場解析など、マイクロレンズに関連するあらゆる側面にわたる包括的なCAEサービスを提供しています。これにより、製品の総合的な性能を最大限に引き出します。
お客様中心のアプローチ
お客様のニーズに合わせて柔軟に対応し、プロジェクトに特有の課題に焦点を当てたアプローチを提供します。お客様との密な連携を通じて、最適な結果を実現します。
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